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產品列表

*詳細的產品分類

中慧

產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	GDW3-KDZ-2B兩探針測試架（測細硅芯棒用）	測細硅芯棒用晶體可測長度：3m 探頭針沿晶體縱向移動距離：300mm
	SD/CTG2300涂覆層測厚儀	便攜式涂覆層測厚儀可快速、損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。本儀器能地應用在電鍍、腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領域。配置不同的測頭，適用于不同場合。
	SD/CTG2200涂覆層測厚儀	便攜式涂覆層測厚儀可快速、損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。本儀器能地應用在電鍍、腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領域。配置不同的測頭，適用于不同場合。
	SD/CTG2100涂覆層測厚儀	便攜式涂覆層測厚儀可快速、損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。本儀器能地應用在電鍍、腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領域。CTG2000型涂覆層測厚儀采用磁性法，可測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。
	GDW3-KDZ-2A兩探針測試架（測檢磷、檢硼棒用）	測檢磷、檢硼棒用，晶體可測長度：300mm
	SD/CTG2000涂覆層測厚儀	便攜式涂覆層測厚儀可快速、損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。本儀器能地應用在電鍍、腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領域。CTG2000型涂覆層測厚儀采用磁性法，可測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。
	GDW3-KDZ-1兩探針測試架	晶體可測長度：700mm 探頭針沿晶體縱向移動距離：700mm
	GDW3-KDJ-2四探針手動測試架	豎測高度：300/500（mm）樣品臺面：φ200mm 可旋轉，前后移動
	GDW3-KDJ-3四探針手動測試架	豎測高度：300/500（mm）樣品臺面：φ400mm，可旋轉，前后移動
	GDSKDJ-1B四探針手動測試架測單晶棒用	測單晶棒用，豎測高度：500（mm）樣品臺面：300×320（mm）
	GDSKDJ-1A四探針手動測試架測片用	豎測高度：120（mm）樣品臺面：200×200（mm）
	CZ/ZO-503氧化鋯煙氣氧量分析儀	ZO-503型氧化鋯煙氣氧量分析儀是由數字顯示轉換器和直插式檢測器組成，可在線連續檢測煙氣中的殘氧濃度，響應迅速、性能穩定。轉換器是以處理器為核心的小型智能化嵌裝成儀表，檢測器直接安裝在待測點煙道內，快速、準確地反映爐內燃燒的即時氧含量，并提供與此氧含量成線性關系的標準模擬信號，與自控裝置配套使用，可**地控制煙道內的殘氧量，對提高燃燒效率，降低能源消耗，減少大氣污染有顯著的作用。
	GDSKDY-1H四探針電阻率/方阻測試儀0.00001-1900Ω·cm（高阻型需配微機、電腦使用）	GDSKDY-1H型四探針電阻率測試儀我公司嚴格按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。
	GDSKDY-1L四探針電阻率/方阻測試儀0.00001-1990Ω·cm（低阻型）	GDSKDY-1L型四探針電阻率測試儀是我公司嚴格按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。整套儀器有如下特點 1、配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數字表（以*之幾的精度）適時監測過程中的電流變化，使操作簡便，測量*。
	SD/UFD3000**型彩屏數字超聲探傷儀	UFD便攜式超聲探傷儀可用于檢測和測量材料內部缺陷及不連續性，典型應用如金屬材料。我們的探傷儀系列齊，適用于焊接、石油化工管道、核工業、壓力容器、航天部件、飛行器維護、鑄件和重金屬檢測等領域。
	GSKDY四探針電阻率測量系統微控制器及配套軟件（含通訊）	GSKDY測量系統微控制器及配套軟件于硅晶體的電阻率測量，集多種測量方法為一體，是與電阻率測試儀配套使用，自動獲取電壓讀數，計算并修正電阻率值，數據自動保存，快速查詢，提供打印及導出格式，操作簡單，方便。
	GDW3-KDDJ1四探針程控電動測試架（豎測高度300/500mm 樣品臺面φ200mm 臺面可旋轉、前后移動)	GDW3-KDDJ1型電動架是使用步進電機驅動，采用單板機可編程控制，操作方便，可調節探頭的下降低點，上升高點固定，探頭在高低點的停留時間范圍廣（從0-19秒）。硅片硅錠測量，普通硅錠測量高度為180mm（可按用戶要求加高），測試臺直徑200mm，不能旋轉和移動。
	GDW3-KDDJ2四探針程控電動測試架（豎測高度300/500mm樣品臺面：φ200mm固定臺面）	GDW3-KDDJ2型電動架是使用步進電機驅動，采用單板機可編程控制，操作方便，可調節探頭的下降低點，上升高點固定，探頭在高低點的停留時間范圍廣（從0-19秒）。硅片硅錠測量，普通硅錠測量高度為180mm（可按用戶要求加高），測試臺直徑200mm，不能旋轉和移動。
	SD/UFD-Z6**型彩屏數字超聲探傷儀	帶方波的Z系列超聲波探傷儀集性能、快捷、、便攜于一身，滿足苛刻需求。主流的性能與碩德產品特質融合，從經歷中錘煉技巧，有勇氣挑戰限。靈敏的反饋、上乘的性能，數字內涵模擬體驗、雜波干擾的舒暢感覺，它就像您的第六感官，隨您想法而動。Z系列超聲波探傷儀像是一款披著便攜外衣的檢測工作站，將帶領您進入檢測的高境界。
	SD/UFD-Z4**型彩屏數字超聲探傷儀	帶方波的Z系列超聲波探傷儀集性能、快捷、、便攜于一身，滿足苛刻需求。主流的性能與碩德產品特質融合，從經歷中錘煉技巧，有勇氣挑戰限。靈敏的反饋、上乘的性能，數字內涵模擬體驗、雜波干擾的舒暢感覺，它就像您的第六感官，隨您想法而動。Z系列超聲波探傷儀像是一款披著便攜外衣的檢測工作站，將帶領您進入檢測的高境界。

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